共焦点レーザーラマン顕微鏡
STR150
アイリックス(株)
50mW-532nm
半導体レーザー
波数分解能:2cm-1
低波数測定:100cm-1
空間分機能:縦横1μm
深さ2.5μm
示差熱熱重量測定装置(TG-DTA)2020SA-TU19Bruker AXS前駆体の処理温度決定や、結晶の相転移温度を調べます。空気、不活性ガス、真空中で、室温から1500℃までの測定が可能です。
比表面積測定装(BET)Bellsorp miniII日本ベル粉末試料の比表面積測定に使用します。
紫外可視近赤外分光光度計(UV-Vis-NIR)V-670日本分光 セラミックス材料の光吸収機能を調べます。190~2700nmの波長を用いることができます。拡散反射ユニットを使うことで、粉末試料の拡散反射スペクトル測定が可能です。
水分解活性試験装置自作水分解反応によって発生した水素・酸素を定量することで、光触媒活性を測定します。ガスクロマトグラフヤナコ水素・酸素の定量を行います。光源:高圧水銀灯、キセノン
マイクロ冷却遠心機KUBOTA 3700最高回転数15,000rpm
雰囲気制御型高温管状炉電気炉・温度制御盤IRH-S・IPC型最高使用温度1500℃(常用1400℃以下)酸化~還元雰囲気が可能。
自動記録形pHメーターHORIBA F-51光触媒活性試験に用います。PCに連続的にpHを出力することができます。
イオン交換水製造機EYELA SA-2100E1合成溶媒に用いるイオン交換水を作製します。
スピンコーターME-300マック産業株式会社原料溶液をスピンコーティングすることで薄膜を作製します。
スプレードライヤーヤマト科学 ADL 310セラミックス原料溶液をスプレードライすることで、形態制御を行ったり、微粒子化・高比表面積化ができます。
角型ドライチャンバー(左)EYELA DRC-1100凍結乾燥機(右)EYELA FDU-2100金属原料溶液を凍結し、偏析させずに乾燥させることにより、均一な前駆体を得る。
走査型電子顕微鏡(FE-SEM)日立ハイテクS-4800(typeⅠ)共同利用設備です。微粒子の観察に用います。
透過型電子顕微鏡(TEM)日立製作所 HF-2200TU共同利用設備です。ナノ粒子の観察と電子回折による結晶構造解析に用います。
電子線マイクロアナライザ(EPMA) EPMA-1610 SHIMAZU共同利用設備です。セラミックス材料の元素分析に用います。
核磁気共鳴スペクトル(NMR)Bruker共同利用設備です。有機金属錯体の分析に用います。
MRD Xpert-MRD日本フィリップス共同利用設備です。薄膜の分析に用います。
蛍光X線分析計(XRF)HORIBA XGT-2700共同利用設備です。合成した材料の元素分析に用います。
走査型プローブ顕微鏡(SPM)デジタル・インスツルメンツNanoscope Ⅲa共同利用設備です。薄膜の表面観察に用います。
電子スピン共鳴スペクトル(ESR)日本電子JES-FA200共同利用設備です。試料中の不対電子や光触媒から発生したラジカル種の検出に用います。
超純水製造装置MILLIPORESIMSV00JP蒸留水をタンクに入れ、セットするだけで超純水が製造できます。
走査型電子顕微鏡(WET-SEM)日立 S-3200 共同利用設備です。微粒子の表面観察に用います。
ぬれ性評価装置(接触角計) NiCK LSE-ME1ぬれ性評価として、接触角の測定を行います。
 閉鎖ガス循環系水分解活性測定装置水分解反応によって生じた水素、酸素をガスガスクロマトグラフに導入し、定量測定を可能にしています。
 可視光照射装置高輝度キセノンイルミネーターシステムLX300イーグルエンジニアリング光源Cermaxキセノンランプ300W 平行光タイプY1089(PE300BF)Excelitas Technologies
ガスクロマトグラフGAS1000Tジェイ・サイエンスラ・ラボ熱伝導度型検出器カラム MS-5A水分解活性測定の際に発生したガスの定量を行っています。
粒度分布計nano PaticaNANO PARTICLE ANALYZERSZ-100HORIBA合成した無機材料の粒子の大きさとその分布および表面電荷(ゼータ電位)を測定します。有機材料でも測定可能です。
PhotalMCPD-770T大塚電子OTUKA ELECTRONICS蛍光体の発光強度、発光波長等の分析を行います。光源には254,365nmの紫外ランプ、青色LED、ハロゲンランプ、830,915,9801064,1310,1550nmレーザーなど、様々な波長の励起光を利用しています。
マイクロ波加熱装置SHARP1900W
高温電気炉SSFS-130-SYAMADA DENKI CO.,LTD.常用温度1650℃最高温度1700℃大気雰囲気のみ
管状炉常用1100℃窒素・水素雰囲気などでの焼成に用います。
多機能材料評価X線回折装置D8 DISCOVERBruker AXS(株)共同利用設備です。無機材料の同定及び構造解析(リートベルト解析など)に用います。
 近赤外線反射ミラー付ハロゲンランプLA-100IR林時計工業株式会社ハロゲンランプの近赤外線だけを照射する近赤外線装置です。IR80フィルター(800nm以上透過)を内蔵しており、可視光を出さずに(800-1,000nm)の近赤外線を照射できます。
キセノン光源MAX-303【ランプタイプ】コンパクトキセノン単色フィルター、短波長、長波長カットフィルターが装着可能です。波長範囲は235~1050nmです。可視光ミラーユニットを装着しています。色素増感太陽電池や光触媒反応の光源に利用しています。
低電圧ソースメーターKeithley2401型1μV~21V、10pA~1.055Aの高精度印加及び測定ができます。100μΩ~211mΩの試料に対応しております。動力:22WI-Vカーブ特性測定用ソフトウェア(PECK2400-N)で太陽電池の発電効率測定に使用しています。
原子間力顕微鏡(AFM)WET-SPM9700島津製作所共同利用設備です。薄膜の表面観察に利用します。
画像無しX線回折装置(XRD)D8 ADVANCEBruker AXS学科内の別の研究室よりお借りして使用しています。
画像無し卓上SEM・EDXMiniscope TM3030HITACHIEDX: Bruker学科内の別の研究室よりお借りして使用しています。 
蛍光光度計・積分球FP-8600日本分光紫外域~1010nmの近赤外域まで測定可能。内径10cmの積分球で粉末や液体等の発光量子収率測定に対応。