装置類
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共焦点レーザーラマン顕微鏡 |
示差熱熱重量測定装置(TG-DTA) 2020SA-TU19 Bruker AXS 前駆体の処理温度決定や、結晶の 相転移温度を調べます。 空気、不活性ガス、真空中で、室温から1500℃までの測定が可能です。 |
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比表面積測定装(BET) Bellsorp miniII 日本ベル 粉末試料の比表面積測定に 使用します。 |
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紫外可視近赤外分光光度計 (UV-Vis-NIR) V-670 日本分光 セラミックス材料の光吸収機能を 調べます。190〜2700nmの波長を 用いることができます。 拡散反射ユニットを使うことで、粉末試料の拡散反射スペクトル測定が可能です。 |
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水分解活性試験装置 自作 水分解反応によって 発生した水素・酸素を 定量することで、光触媒活性を 測定します。 ガスクロマトグラフ ヤナコ 水素・酸素の 定量を行います。 光源:高圧水銀灯、キセノン |
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マイクロ冷却遠心機 KUBOTA 3700 最高回転数15,000rpm |
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雰囲気制御型高温管状炉 電気炉・温度制御盤 IRH-S・IPC型 最高使用温度1500℃ (常用1400℃以下) 酸化〜還元雰囲気が可能。 |
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自動記録形pHメーター HORIBA F-51 光触媒活性試験に 用います。 PCに連続的にpHを 出力することができます。 |
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イオン交換水製造機 EYELA SA-2100E1 合成溶媒に用いるイオン交換水を 作製します。 |
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スピンコーター ME-300 マック産業株式会社 原料溶液をスピンコーティング することで薄膜を作製します。 |
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スプレードライヤー ヤマト科学 ADL 310 セラミックス原料溶液をスプレードライすることで、形態制御を行ったり、微粒子化・高比表面積化ができます。 |
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角型ドライチャンバー(左) EYELA DRC-1100 凍結乾燥機(右) EYELA FDU-2100 金属原料溶液を凍結し、偏析させずに乾燥させることにより、 均一な前駆体を得る。 |
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走査型電子顕微鏡(FE-SEM) 日立ハイテク S-4800(typeT) 共同利用設備です。 微粒子の観察に用います。 |
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透過型電子顕微鏡(TEM) 日立製作所 HF-2200TU 共同利用設備です。 ナノ粒子の観察と電子回折による結晶構造解析に用います。 |
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電子線マイクロアナライザ(EPMA) EPMA-1610 SHIMAZU 共同利用設備です。 セラミックス材料の元素分析に 用います。 |
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核磁気共鳴スペクトル(NMR) Bruker 共同利用設備です。 有機金属錯体の分析に用います。 |
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MRD Xpert-MRD 日本フィリップス 共同利用設備です。 薄膜の分析に用います。 |
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蛍光X線分析計(XRF) HORIBA XGT-2700 共同利用設備です。 合成した材料の 元素分析に用います。 |
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走査型プローブ顕微鏡 (SPM) デジタル・インスツルメンツ Nanoscope Va 共同利用設備です。 薄膜の表面観察に用います。 |
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電子スピン共鳴スペクトル(ESR) 日本電子JES-FA200 共同利用設備です。 試料中の不対電子や光触媒から 発生したラジカル種の検出に 用います。 |
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超純水製造装置 MILLIPORE SIMSV00JP 蒸留水をタンクに入れ、 セットするだけで超純水が 製造できます。 |
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走査型電子顕微鏡 (WET-SEM) 日立 S-3200 共同利用設備です。 微粒子の表面観察に 用います。 |
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ぬれ性評価装置(接触角計) NiCK LSE-ME1 ぬれ性評価として、接触角の 測定を行います。 |
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閉鎖ガス循環系水分解 活性測定装置 水分解反応によって生じた 水素、酸素を ガスガスクロマトグラフに 導入し、定量測定を 可能にしています。 |
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可視光照射装置 高輝度キセノンイルミネーターシステムLX300 イーグルエンジニアリング 光源 Cermaxキセノンランプ300W 平行光タイプ Y1089(PE300BF) Excelitas Technologies |
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ガスクロマトグラフ GAS1000T ジェイ・サイエンスラ・ラボ 熱伝導度型検出器 カラム MS-5A 水分解活性測定の際に 発生したガスの定量を 行っています。 |
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粒度分布計 nano Patica NANO PARTICLE ANALYZER SZ-100 HORIBA 合成した無機材料の粒子の 大きさとその分布および 表面電荷(ゼータ電位)を 測定します。有機材料でも測定可能です。 |
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Photal MCPD-770T 大塚電子 OTUKA ELECTRONICS 蛍光体の発光強度、発光波長等の分析を行います。 光源には254,365nmの 紫外ランプ、青色LED、 ハロゲンランプ、 830,915,9801064,1310,1550nmレーザーなど、様々な波長の 励起光を利用しています。 |
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マイクロ波加熱装置 SHARP 1900W |
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高温電気炉 SSFS-130-S YAMADA DENKI CO.,LTD. 常用温度1650℃ 最高温度1700℃ 大気雰囲気のみ |
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管状炉 常用1100℃ 窒素・水素雰囲気などでの 焼成に用います。 |
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多機能材料評価 X線回折装置 D8 DISCOVER Bruker AXS(株) 共同利用設備です。 無機材料の同定及び構造解析(リートベルト解析など)に 用います。 |
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近赤外線反射ミラー付 ハロゲンランプ LA-100IR 林時計工業株式会社 ハロゲンランプの近赤外線 だけを照射する近赤外線装置です。IR80フィルター(800nm以上透過)を内蔵しており、可視光を出さずに(800-1,000nm)の近赤外線を照射できます。 |
キセノン光源 MAX-303 【ランプタイプ】 コンパクトキセノン 単色フィルター、短波長、 長波長カットフィルターが 装着可能です。波長範囲は 235〜1050nmです。 可視光ミラーユニットを装着しています。 色素増感太陽電池や光触媒反応の光源に利用しています。 |
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低電圧ソースメーター Keithley2401型 1μV〜21V、10pA〜1.055Aの高精度印加及び 測定ができます。 100μΩ〜211mΩの試料に 対応しております。 動力:22W I-Vカーブ特性測定用ソフトウェア(PECK2400-N)で太陽電池の発電効率測定に使用しています。 |
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原子間力顕微鏡(AFM) WET-SPM9700 島津製作所 共同利用設備です。 薄膜の表面観察に 利用します。 |
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画像無し |
X線回折装置(XRD) D8 ADVANCE Bruker AXS 学科内の別の研究室よりお借りして使用しています。 |
画像無し |
卓上SEM・EDX Miniscope TM3030 HITACHI EDX: Bruker 学科内の別の研究室よりお借りして使用しています。 |
蛍光光度計・積分球 FP-8600 日本分光 紫外域〜1010nmの近赤外域まで測定可能。内径10cmの積分球で粉末や液体等の発光量子収率測定に対応。 |