東海大学理学部化学科
冨田研究室

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装置類 

共焦点レーザーラマン顕微鏡
STR150
アイリックス(株)
50mW-532nm
半導体レーザー
波数分解能:2cm-1
低波数測定:100cm-1
空間分機能:縦横1μm
深さ2.5μm

示差熱熱重量測定装置(TG-DTA)

2020SA-TU19

Bruker AXS

前駆体の処理温度決定や、結晶の

相転移温度を調べます。

空気、不活性ガス、真空中で、室温から1500℃までの測定が可能です。

比表面積測定装(BET)

Bellsorp miniII

日本ベル

粉末試料の比表面積測定に

使用します。

紫外可視近赤外分光光度計

(UV-Vis-NIR)

V-670

日本分光 

セラミックス材料の光吸収機能を

調べます。190〜2700nmの波長を

用いることができます。

拡散反射ユニットを使うことで、粉末試料の拡散反射スペクトル測定が可能です。

水分解活性試験装置

自作

水分解反応によって

発生した水素・酸素を

定量することで、光触媒活性を

測定します。

ガスクロマトグラフ

ヤナコ

水素・酸素の

定量を行います。

光源:高圧水銀灯、キセノン

マイクロ冷却遠心機

KUBOTA 3700

最高回転数15,000rpm

雰囲気制御型高温管状炉

電気炉・温度制御盤

IRH-S・IPC型

最高使用温度1500℃

(常用1400℃以下)

酸化〜還元雰囲気が可能。

自動記録形pHメーター

HORIBA F-51

光触媒活性試験に

用います。

PCに連続的にpHを

出力することができます。

イオン交換水製造機

EYELA SA-2100E1

合成溶媒に用いるイオン交換水を

作製します。

スピンコーター

ME-300

マック産業株式会社

原料溶液をスピンコーティング

することで薄膜を作製します。

スプレードライヤー

ヤマト科学 ADL 310

セラミックス原料溶液をスプレードライすることで、形態制御を行ったり、微粒子化・高比表面積化ができます。

角型ドライチャンバー(左)

EYELA DRC-1100

凍結乾燥機(右)

EYELA FDU-2100

金属原料溶液を凍結し、偏析させずに乾燥させることにより、

均一な前駆体を得る。

走査型電子顕微鏡(FE-SEM)

日立ハイテク

S-4800(typeT)

共同利用設備です。

微粒子の観察に用います。

透過型電子顕微鏡(TEM)

日立製作所 HF-2200TU

共同利用設備です。

ナノ粒子の観察と電子回折による結晶構造解析に用います。

電子線マイクロアナライザ(EPMA) EPMA-1610 SHIMAZU

共同利用設備です。

セラミックス材料の元素分析に

用います。

核磁気共鳴スペクトル(NMR)

Bruker

共同利用設備です。

有機金属錯体の分析に用います。

MRD Xpert-MRD

日本フィリップス

共同利用設備です。

薄膜の分析に用います。

蛍光X線分析計(XRF)

HORIBA XGT-2700

共同利用設備です。

合成した材料の

元素分析に用います。

走査型プローブ顕微鏡

(SPM)

デジタル・インスツルメンツ

Nanoscope Va

共同利用設備です。

薄膜の表面観察に用います。

電子スピン共鳴スペクトル(ESR)

日本電子JES-FA200

共同利用設備です。

試料中の不対電子や光触媒から

発生したラジカル種の検出に

用います。

超純水製造装置

MILLIPORE

SIMSV00JP

蒸留水をタンクに入れ、

セットするだけで超純水が

製造できます。

走査型電子顕微鏡

(WET-SEM)

日立 S-3200 

共同利用設備です。

微粒子の表面観察に

用います。

ぬれ性評価装置(接触角計) NiCK LSE-ME1

ぬれ性評価として、接触角の

測定を行います。

 閉鎖ガス循環系水分解

活性測定装置

水分解反応によって生じた

水素、酸素を

ガスガスクロマトグラフに

導入し、定量測定を

可能にしています。

 可視光照射装置

高輝度キセノンイルミネーターシステムLX300

イーグルエンジニアリング

光源

Cermaxキセノンランプ300W

 平行光タイプ

Y1089(PE300BF)

Excelitas Technologies

ガスクロマトグラフ

GAS1000T

ジェイ・サイエンスラ・ラボ

熱伝導度型検出器

カラム MS-5A

水分解活性測定の際に

発生したガスの定量を

行っています。

粒度分布計

nano Patica

NANO PARTICLE ANALYZER

SZ-100

HORIBA

合成した無機材料の粒子の

大きさとその分布および

表面電荷(ゼータ電位)を

測定します。有機材料でも測定可能です。

Photal

MCPD-770T

大塚電子

OTUKA ELECTRONICS

蛍光体の発光強度、発光波長等の分析を行います。

光源には254,365nmの

紫外ランプ、青色LED、

ハロゲンランプ、

830,915,9801064,1310,1550nmレーザーなど、様々な波長の

励起光を利用しています。

マイクロ波加熱装置

SHARP

1900W

高温電気炉

SSFS-130-S

YAMADA DENKI CO.,LTD.

常用温度1650℃

最高温度1700℃

大気雰囲気のみ

管状炉

常用1100℃

窒素・水素雰囲気などでの

焼成に用います。

多機能材料評価

X線回折装置

D8 DISCOVER

Bruker AXS(株)

共同利用設備です。

無機材料の同定及び構造解析(リートベルト解析など)に

用います。

 

近赤外線反射ミラー付

ハロゲンランプ

LA-100IR

林時計工業株式会社

ハロゲンランプの近赤外線

だけを照射する近赤外線装置です。IR80フィルター(800nm以上透過)を内蔵しており、可視光を出さずに(800-1,000nm)の近赤外線を照射できます。

キセノン光源

MAX-303

【ランプタイプ】

コンパクトキセノン

単色フィルター、短波長、

長波長カットフィルターが

装着可能です。波長範囲は

235〜1050nmです。

可視光ミラーユニットを装着しています。

色素増感太陽電池や光触媒反応の光源に利用しています。

低電圧ソースメーター

Keithley2401型

1μV〜21V、10pA〜1.055Aの高精度印加及び

測定ができます。

100μΩ〜211mΩの試料に

対応しております。

動力:22W

I-Vカーブ特性測定用ソフトウェア(PECK2400-N)で太陽電池の発電効率測定に使用しています。

原子間力顕微鏡(AFM)

WET-SPM9700

島津製作所

共同利用設備です。

薄膜の表面観察に

利用します。

画像無し

X線回折装置(XRD)

D8 ADVANCE

Bruker AXS

学科内の別の研究室よりお借りして使用しています。

画像無し

卓上SEM・EDX

Miniscope TM3030

HITACHI

EDX: Bruker

学科内の別の研究室よりお借りして使用しています。 

蛍光光度計・積分球

FP-8600

日本分光

紫外域〜1010nmの近赤外域まで測定可能。内径10cmの積分球で粉末や液体等の発光量子収率測定に対応。